一、国产测试机中低端为主，中高端国外领先厂商份额近90%
测试机(ATE，Automatic Test Equipment)是一种由高性能计算机控制的测试仪器的集合体，是由测试仪和计算机组合而成的测试系统。一般大家认为这种测试系统都是通用的，其实大部分测试系统的设计都是面向专门类型的集成电路，这些专门的电路包括：存储器、数字电路、模拟电路和混合信号电路。每种类型下还可以细分成更多种类，我们这里只考虑这四种类型。
纯的模拟电路测试空间较小：主要因为现代电子系统中使用的大部分 IC都包含有数字信号。在20世纪80年代之前，模拟IC曾在IC总市场中占有25％的市场份额；80年代中后期是PC 、数字通讯、
Internet起飞的时期，模拟IC市场比重下降至20％以下；至90年代，数字技术Mos存贮器和微器件(MPU、MCU)两类产品有突破性发展，平均年增长率都超过15% 。但模拟电路市场份额并未下降，而和数字型IC同步增长， 市场份额一直保持在16%-17%左右。目前长川科技测试设备基本上都是模拟IC的测试机，还有一部分数模混合测试机，目前正积极向数字电路测试机突破；
SOC测试机、存储器测试机的市场占比合计近90%：近年来，随着IC 复杂度的日益提高，迫使设计人员采用更为先进的工艺技术，将更多的功能集成到单芯片内，系统级芯片(System on Chip, SoC)因此受到广泛应用，目标是进一步降低整机系统设计、测试和制造的成本。截至2017年底，全球ATE设备的市场空间在200亿以上，其中SOC测试机占比70%以上，存储器测试机占比约20%，剩余10%为其他类型的测试机。反观长川科技的测试机，目前仍以电源管理芯片为主，未来仍有较强的提升空间；精测电子前期联合三星供应商IT&T，率先进入存储和面板驱动芯片检测设备市场，期待后续产品出货；
按层次可以将测试设备分为三大类，中、高档的ATE设备仍以依赖国外进口为主：
1、高端产品：针对高性能CPU、DSP、高速、大容量存储器及高端SOC、ASIC电路；
2、中端产品：测试速率一般为几十兆到一百兆，测试通道达几百个。其特点为：一般采用新型高速、高密度、低功耗MOS器件，在测试精度、速度、测试范围做了优化调整，使测试系统的体积、功耗、成本都大为降低。主要测试对象是新型的消费类IC、通用类的存储器、微控制器、数/模混合IC及不断出现的SOC、ASIC类芯片；
3、专用设备：针对测试对象采用最优设计的测试系统，其特点是结构相对简单。成本低、但测试范围窄、适应性差。主要用于中、低端IC 及特出测试需求，从以上测试系统应用而言，每种系统都有其主要的应用范围。
目前国内已经装配的测试系统主要偏重在低档数字测试系统、模拟及数字、模拟混合测试系统等，其中的领先厂商包括长川科技、华峰测控、泰思特等。本土厂商在中高档测试能力部分目前仍十分薄弱，尚无法与国外业者相抗衡（包括爱德万Advantest、泰瑞达Teradyne、 Verigy、居诺JUNO半导体等）。但在各路资金、上下游企业的大力支持下，国产中、高档测试系统已经研制成功，目前正进入小批量生产阶段。相信不久将逐步服务于国内IC生产线中。
爱德万和泰瑞达在不同检测领域各有优势：爱德万、泰瑞达为全球半导体产业最大的自动化测试设备 (ATE) 供应商，二者合计份额达到80-90%，在不同的测试机领域各有优势：
参考观研天下发布《2018年中国半导体市场分析报告-行业运营态势与发展前景研究》
在SOC测试领域，泰瑞达的旗舰产品出货量更高：截至2017年6月，爱德万的两大旗舰SOC测试平台中，V93000测试系统创下5000套出货量的好成绩，T2000也出货近3000台。相比之下，泰瑞达的UFLEX出货2000+，J750近6000台；
在存储器测试领域，基本上爱德万的产品已成为业界标准：虽然Nextest Magnum系列抢了部分市场份额，但是还差的很远；
在面板驱动IC测试领域：曾经爱德万和横河电机是竞争对手，现在横河电机几乎退出市场了。
二、中测CP环节设备最大的区别是增加了探针台
探针测试台(Prober)是前后道工序之间用于对半导体器件芯片的电参数特性进行测试的关键设备，它可以将电参数特性不符合要求的芯片用打点器(INKER)做一明显标记， 便于在后道工序中及时将其剔除，这样就有效地提高了半导体器件生产的成品率，大大降低器件的制造成本。在具体测试的时候，晶圆被固定在真空吸力的卡盘上，并与很薄的探针电测器对准，同时探针与芯片的每一个焊盘相接触。 电测器在电源的驱动下测试电路并记录下结果。 测试的数量、顺序和类型由计算机程序控制。
探针台可分为手动、半自动/全自动探针台。比较好的探针台主要由基台(精密机械)部分、光学系统、配件(探针座， 防震桌， 光罩)以及其他辅助增强系统，如laser cutter，温度控制等附件组成。一般来说，探针台的单价在百万级别，远高于分选机。根据统计，探针台的市场份额约占总测试机+探针台+分选机的市场空间的10-15%左右，因此判断2017年全球探针台市场空间约为60-70亿左右。
1） 手动探针台
手动探针台代表性产品有英国的wentworth、台湾的everbeing、韩国 Ecopia、宜特等也均有组装产品， 配件一般采用美国或日本的机械系统和光学系统。
2） 半自动/自动探针台
一般用来测试批量成品， 半成品的成品率。 是晶圆代工厂(foundry)、封装厂、测试厂的主要设备之一。半自动探针台的代表性产品有德国Suss微技术公司的 BlueRay半自动探针台，全自动探针台的生产厂商主要有美国Electroglas， 日本的东京精密(Accretech)、东京电子(TEL)等。 三大公司雄霸了全球的探针测试设备市场，其中东京电子占比最高。
测试机(ATE，Automatic Test Equipment)是一种由高性能计算机控制的测试仪器的集合体，是由测试仪和计算机组合而成的测试系统。一般大家认为这种测试系统都是通用的，其实大部分测试系统的设计都是面向专门类型的集成电路，这些专门的电路包括：存储器、数字电路、模拟电路和混合信号电路。每种类型下还可以细分成更多种类，我们这里只考虑这四种类型。
纯的模拟电路测试空间较小：主要因为现代电子系统中使用的大部分 IC都包含有数字信号。在20世纪80年代之前，模拟IC曾在IC总市场中占有25％的市场份额；80年代中后期是PC 、数字通讯、
Internet起飞的时期，模拟IC市场比重下降至20％以下；至90年代，数字技术Mos存贮器和微器件(MPU、MCU)两类产品有突破性发展，平均年增长率都超过15% 。但模拟电路市场份额并未下降，而和数字型IC同步增长， 市场份额一直保持在16%-17%左右。目前长川科技测试设备基本上都是模拟IC的测试机，还有一部分数模混合测试机，目前正积极向数字电路测试机突破；
SOC测试机、存储器测试机的市场占比合计近90%：近年来，随着IC 复杂度的日益提高，迫使设计人员采用更为先进的工艺技术，将更多的功能集成到单芯片内，系统级芯片(System on Chip, SoC)因此受到广泛应用，目标是进一步降低整机系统设计、测试和制造的成本。截至2017年底，全球ATE设备的市场空间在200亿以上，其中SOC测试机占比70%以上，存储器测试机占比约20%，剩余10%为其他类型的测试机。反观长川科技的测试机，目前仍以电源管理芯片为主，未来仍有较强的提升空间；精测电子前期联合三星供应商IT&T，率先进入存储和面板驱动芯片检测设备市场，期待后续产品出货；
按层次可以将测试设备分为三大类，中、高档的ATE设备仍以依赖国外进口为主：
1、高端产品：针对高性能CPU、DSP、高速、大容量存储器及高端SOC、ASIC电路；
2、中端产品：测试速率一般为几十兆到一百兆，测试通道达几百个。其特点为：一般采用新型高速、高密度、低功耗MOS器件，在测试精度、速度、测试范围做了优化调整，使测试系统的体积、功耗、成本都大为降低。主要测试对象是新型的消费类IC、通用类的存储器、微控制器、数/模混合IC及不断出现的SOC、ASIC类芯片；
3、专用设备：针对测试对象采用最优设计的测试系统，其特点是结构相对简单。成本低、但测试范围窄、适应性差。主要用于中、低端IC 及特出测试需求，从以上测试系统应用而言，每种系统都有其主要的应用范围。
目前国内已经装配的测试系统主要偏重在低档数字测试系统、模拟及数字、模拟混合测试系统等，其中的领先厂商包括长川科技、华峰测控、泰思特等。本土厂商在中高档测试能力部分目前仍十分薄弱，尚无法与国外业者相抗衡（包括爱德万Advantest、泰瑞达Teradyne、 Verigy、居诺JUNO半导体等）。但在各路资金、上下游企业的大力支持下，国产中、高档测试系统已经研制成功，目前正进入小批量生产阶段。相信不久将逐步服务于国内IC生产线中。
爱德万和泰瑞达在不同检测领域各有优势：爱德万、泰瑞达为全球半导体产业最大的自动化测试设备 (ATE) 供应商，二者合计份额达到80-90%，在不同的测试机领域各有优势：
参考观研天下发布《2018年中国半导体市场分析报告-行业运营态势与发展前景研究》
在SOC测试领域，泰瑞达的旗舰产品出货量更高：截至2017年6月，爱德万的两大旗舰SOC测试平台中，V93000测试系统创下5000套出货量的好成绩，T2000也出货近3000台。相比之下，泰瑞达的UFLEX出货2000+，J750近6000台；
在存储器测试领域，基本上爱德万的产品已成为业界标准：虽然Nextest Magnum系列抢了部分市场份额，但是还差的很远；
在面板驱动IC测试领域：曾经爱德万和横河电机是竞争对手，现在横河电机几乎退出市场了。
二、中测CP环节设备最大的区别是增加了探针台
探针测试台(Prober)是前后道工序之间用于对半导体器件芯片的电参数特性进行测试的关键设备，它可以将电参数特性不符合要求的芯片用打点器(INKER)做一明显标记， 便于在后道工序中及时将其剔除，这样就有效地提高了半导体器件生产的成品率，大大降低器件的制造成本。在具体测试的时候，晶圆被固定在真空吸力的卡盘上，并与很薄的探针电测器对准，同时探针与芯片的每一个焊盘相接触。 电测器在电源的驱动下测试电路并记录下结果。 测试的数量、顺序和类型由计算机程序控制。
图表：测试的数量、顺序和类型由计算机程序控制
图表来源：公开资料整理
探针台可分为手动、半自动/全自动探针台。比较好的探针台主要由基台(精密机械)部分、光学系统、配件(探针座， 防震桌， 光罩)以及其他辅助增强系统，如laser cutter，温度控制等附件组成。一般来说，探针台的单价在百万级别，远高于分选机。根据统计，探针台的市场份额约占总测试机+探针台+分选机的市场空间的10-15%左右，因此判断2017年全球探针台市场空间约为60-70亿左右。
1） 手动探针台
手动探针台代表性产品有英国的wentworth、台湾的everbeing、韩国 Ecopia、宜特等也均有组装产品， 配件一般采用美国或日本的机械系统和光学系统。
2） 半自动/自动探针台
一般用来测试批量成品， 半成品的成品率。 是晶圆代工厂(foundry)、封装厂、测试厂的主要设备之一。半自动探针台的代表性产品有德国Suss微技术公司的 BlueRay半自动探针台，全自动探针台的生产厂商主要有美国Electroglas， 日本的东京精密(Accretech)、东京电子(TEL)等。 三大公司雄霸了全球的探针测试设备市场，其中东京电子占比最高。
资料来源：公开资料，观研天下整理，转载请注明出处（ZQ）
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